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免費(fèi)下載 IEC 60068-2-66:1994 《環(huán)境試驗(yàn)—第2部分:試驗(yàn)方法—試驗(yàn)Cx:濕熱,穩(wěn)態(tài)(非飽和加壓蒸汽)》(適用于廣東韋斯高低溫濕熱試驗(yàn)箱)
發(fā)布時(shí)間:2026-01-04 瀏覽:57

標(biāo)準(zhǔn)地址下載

IEC 60068-2-66:1994  Environmental testing - Part 2:Test methods - Test Cx:Damp heat, steady state (unsaturated pressurized vapo.pdf

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標(biāo)準(zhǔn)概述
IEC 60068-2-66:1994是國(guó)際電工委員會(huì)(IEC)發(fā)布的一項(xiàng)環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn),全稱為“環(huán)境試驗(yàn)—第2部分:試驗(yàn)方法—試驗(yàn)Cx:濕熱,穩(wěn)態(tài)(非飽和加壓蒸汽)”。該標(biāo)準(zhǔn)旨在提供一個(gè)加速試驗(yàn)方法,用于評(píng)估小型電氣電子產(chǎn)品(尤其是非密封封裝元件)在高溫高濕環(huán)境下的耐受能力。它通過模擬極端濕熱條件,在較短時(shí)間內(nèi)檢驗(yàn)產(chǎn)品是否會(huì)發(fā)生因濕氣滲透引起的性能退化。

適用范圍
該標(biāo)準(zhǔn)主要適用于小型非密封封裝的電氣電子元件,如塑料封裝的半導(dǎo)體器件、集成電路等。試驗(yàn)重點(diǎn)評(píng)估濕氣滲透導(dǎo)致的內(nèi)部劣化(如金屬腐蝕、絕緣下降),不適用于評(píng)估外部效應(yīng)如外觀腐蝕、結(jié)構(gòu)變形等。

試驗(yàn)條件與所需儀器
試驗(yàn)在以下三種溫度下進(jìn)行,相對(duì)濕度均為85%:

  • 110°C(持續(xù)時(shí)間:96h、192h、408h)

  • 120°C(48h、96h、192h)

  • 130°C(24h、48h、96h)

所需儀器為濕熱試驗(yàn)箱,需滿足:

  • 能控制溫度(±2°C)和濕度(±5%RH)

  • 能維持一定壓力(約0.12?MPa至0.23?MPa)

  • 具備蒸汽發(fā)生裝置和工作空間監(jiān)控傳感器

  • 使用蒸餾水或去離子水(電阻率≥0.5?MΩ·cm,pH?6.0–7.2)

恢復(fù)條件
試驗(yàn)結(jié)束后,樣品需在標(biāo)準(zhǔn)大氣條件(通常為23°C、50%RH)下恢復(fù)2至24小時(shí),以穩(wěn)定其狀態(tài),之后再進(jìn)行最終測(cè)量。

試驗(yàn)過程與要求

  1. 初始測(cè)量:檢查樣品外觀、尺寸和功能。

  2. 安裝樣品:避免熱輻射,使用低導(dǎo)熱性支架,確保蒸汽流通。

  3. 施加偏壓:若規(guī)定,在溫濕度穩(wěn)定后施加電壓以增強(qiáng)濕氣效應(yīng)。

  4. 試驗(yàn)循環(huán)

    • 升溫階段(≤1.5?h),排除腔內(nèi)空氣;

    • 保持規(guī)定溫濕度;

    • 降溫降壓(1–4?h),避免快速減壓。

  5. 中間測(cè)量(可選):可在試驗(yàn)中檢測(cè),但不改變?cè)囼?yàn)條件。

  6. 恢復(fù)與最終測(cè)量:恢復(fù)后再次進(jìn)行外觀、尺寸和功能檢查。

設(shè)備要求:高低溫濕熱試驗(yàn)箱

  • 試驗(yàn)箱應(yīng)使用不銹鋼、玻璃或陶瓷等耐腐蝕材料。

  • 腔內(nèi)不得有冷凝水滴落于樣品。

  • 溫度波動(dòng)應(yīng)控制在其差異不超過1.5°C,以保持濕度穩(wěn)定。

  • 蒸汽流速宜低于0.5?m/s,接近自然對(duì)流。

其他注意事項(xiàng)

  • 不推薦重復(fù)試驗(yàn),若需更長(zhǎng)時(shí)間可重新開始(間隔不超過96h)。

  • 樣品溫度不得超過其額定最高溫度或封裝材料的臨界溫度(如塑料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度)。

  • 偏壓施加應(yīng)避免引起樣品過熱(溫升<2°C),必要時(shí)可采用間歇通電(如3h關(guān)/1h開)。

  • 試驗(yàn)箱清潔至關(guān)重要:每次試驗(yàn)前應(yīng)使用稀釋清潔劑和純水清洗,防止污染影響結(jié)果。

  • 濕度測(cè)量在高壓高溫環(huán)境下需通過間接方法(如溫度法、濕球法或露點(diǎn)法)并結(jié)合蒸汽表計(jì)算。

總結(jié)
IEC 60068-2-66為電子產(chǎn)品提供了一套加速濕熱老化的標(biāo)準(zhǔn)化檢驗(yàn)方法,通過模擬高溫高壓高濕環(huán)境,快速暴露產(chǎn)品在濕氣滲透下的潛在缺陷。該標(biāo)準(zhǔn)不僅對(duì)試驗(yàn)設(shè)備、條件、流程作出細(xì)致規(guī)定,也強(qiáng)調(diào)了樣品安裝、偏壓控制、設(shè)備清潔等細(xì)節(jié),確保試驗(yàn)結(jié)果的一致性與可靠性,為電子產(chǎn)品的耐濕熱設(shè)計(jì)提供了重要的驗(yàn)證手段。


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